研討會
2021/6/3 高頻&高速介面 雜訊測試方案-線上研討會
- 發佈日期:
- 最後更新日:
- 資料來源: TOSIA 台灣光電暨化合物半導體產業協會
- 瀏覽人次: 398
- 活動日期: 2021-06-03
- 聯絡人姓名: 蔡小姐/蔡小姐
- 聯絡人電話: 0755-29351095/03-5500909 ext. 3800 蔡小姐
- 聯絡人Email: mandy_cai@acesolution.com.cn / eva_tsai@acesolution.com.tw
- 相關連結: http://register.acesolution.com.tw/2021_Noisecom
近年在WiFi及5G和高速數位的頻率不斷提高下，待測物的抗雜訊逐漸受到重視，不論在高頻衛星通訊、國防、各種高速通訊介面中，如何驗證待測物的抗雜訊能力成為各晶片、網通廠等使用者的難題之一，筑波科技與美商Noisecom推出雜訊測試方案，協助客戶驗證並量化待測物之各項雜訊數值，優化產品品質，滿足終端客戶要求。
本次筑波科技特別邀請Noisecom雜訊技術專家線上分享: IC抗雜訊測試解決方案。熱烈歡迎從事WiFi 、 5G NR 、 IC Design、Thunderbolt、Displayport、HDMI、USB3.0、DDR2等高速數位電路開發相關測試應用有興趣的RD/PL/PE/PM等業界先進報名參加
