研討會
6月17日LED流明維持率測試技術與設備交流 說明會
- 發佈日期:
- 最後更新日:
- 資料來源:
- 瀏覽人次: 717
- 活動日期: 6月17日(五)09:00-13:00
- 活動地點: 工研院中興院區78館210會議室(新竹縣竹東鎮中興路四段195號)
- 主辦單位: 台灣光電半導體產業協會(TOSIA).財團法人工業技術研究院 電子與光電研究所
- 報名費用: 免費,限TOSIA會員出席
LED光源具有長效壽命的優點，然而LED壽命議題不僅包含晶粒與封裝端，更與模組及系統品質可靠度息息相關。一般來說，LED的預期壽命最少需達25000小時以上，然而實測時數過於曠日廢時，且目前LED光源的壽命推估方式依然莫衷一是，使得LED光源與照明產品的實際壽命常有無法套用之情形，而影響LED照明之普及。
北美照明協會(IESNA)於2008年推出固態照明的兩份測試標準LM-79與LM-80，其中LM-80是針對LED光源的流明維持率進行測試，並以該標準規定的測試架構作為新標準TM-21壽命推估值的依據。美國能源之星的照明燈具規範亦將LM-80與TM-21作為判斷LED光源壽命是否合乎要求的引用標準。
工研院電光所因應廠商需求，建置符合LM-79積分球與LM-80流明維持率測試要求之設備，並預計於九月完成國際實驗室認證，此次邀請IESNA LM-80規範之起草人Jeff Hulett與工研院同仁共同主講LM-80測試設備與TM-21壽命推估之要求，並藉此機會達成互相交流之目的。誠摯歡迎LED技術產業先進踴躍報名參加。
|
時間
|
題目
|
主講人
|
|
09:00~09:20
|
報 到
|
|
|
09:20~09:30
|
開場
|
工研院 電光所
|
|
09:30~10:20
|
Practical Lumen Maintenance Testing Using LM-80
|
Vektrex CTO
Jeff Hulett
|
|
10:20~10:50
|
TM-21: Projecting Long Term Lumen Maintenance
of LED Light Sources 解析 |
工研院 電光所
林沁瑋 工程師
|
|
10:50~11:00
|
LM-80整合性測試方案與服務說明
|
工研院 電光所
周佩廷 經 理
|
|
11:00~12:00
|
LM-80測試設備建置交流
|
工研院 電光所
|
|
12:00~13:00
|
問 題 討 論 與 餐 敘
|
|
【報名資訊】
一、報名方式：
請填寫報名表，mail至tosia@itri.org.tw 或傳真至(03)583-3986 廖亞玫小姐收
二、報名費用：
全額免費，含交流會講義及茶水
三、報名截止日期：
100年06月15日(星期三)
場地座位有限，限TOSIA會員每家公司至多2位，報名人數額滿為止。
四、聯絡窗口：(03)591-8301 廖亞玫 小姐
附件
| 檔案名稱 | 檔案大小 | 更新日期 | 檔案下載 |
|---|---|---|---|
| 活動DM | 284kb | DOC |
